NI 下一代工業(yè)測控系統(tǒng)——更高精度更快控制研討會
場次安排： 07/22 石家莊 |09/17 青島|09/22 南通 起止時間： 2008-06-12 至 2009-09-22
簡介：
當前，工業(yè)控制領(lǐng)域的競爭越發(fā)激烈，對于工業(yè)控制器的要求也越來越高。您可能需要把更高精度的測量和更高速度的控制集成到已有的系統(tǒng)中去。
本研討會將為您帶來高性能的測控解決方案。開放的軟件平臺不僅提供了多種高級算法加速開發(fā)流程，也可以方便地集成您已有的硬件產(chǎn)品降低系統(tǒng)升級成本。堅固可靠的硬件平臺集成了當前最先進的FPGA技術(shù)，可以滿足您對于高性能的測試和控制的需求。
此外，NI的工業(yè)平臺中還可以輕松集成機器視覺與運動控制系統(tǒng)，滿足您個性化的系統(tǒng)應(yīng)用需求。
本次研討會為以下工程師精心設(shè)計：
控制工程師，自動化工程師，機械工程師及工業(yè)控制領(lǐng)域系統(tǒng)開發(fā)人員
研討會議程：
高精度測量
高性能分析
集成FPGA的高級控制平臺
與現(xiàn)有平臺方便的集成
涉及的產(chǎn)品/應(yīng)用/演示包括：
LabVIEW，LabVIEW DSC，NI OPC Server
CompactRIO，NI機器視覺平臺，NI運動控制平臺，Touch Panel
CompactRIO Scan Mode演示
用戶案例介紹：
鋼鐵冶金，軌道控制，汽車工業(yè)等行業(yè)對于高性能測量與控制的應(yīng)用
網(wǎng)絡(luò)資源：
ni.com/china/pac
ni.com/china/industrial
07/22 石家莊 14:00 - 17:00 具體地點以電話確認為準
9/17 青島 14:00 - 17:00 具體地點以電話確認為準
9/22 南通 14:00 - 17:00 具體地點以電話確認為準
更多研討會資料：
利用NI LabVIEW與CompactRIO平臺，助力奧運場館結(jié)構(gòu)健康監(jiān)測
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